010-51658042010-51658042
描述：巖石磨片機(jī) 拋光磨片機(jī) 型號(hào)：HAD-G250本機(jī)采用可控硅無調(diào)速，配有調(diào)速裝置。整機(jī)為落地式，作平穩(wěn)。臺(tái)面不銹鋼制作。選不同速度，換不同目數(shù)金剛沙分別可當(dāng)拋光或磨片機(jī)用?？蓡斡没螂p用。當(dāng)拋光機(jī)用時(shí)，般0.2-0.3mm載波片樣拋制成0.02mm-0.03mm薄片只需不到20秒。HAD-G250巖石磨片機(jī) 機(jī)主要參數(shù)：拋光盤直徑：250mm主軸轉(zhuǎn)速：無調(diào)速
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2025-05-03訪問量
993
PRODUCT我們相信好的產(chǎn)品是信譽(yù)的保證！
ARTICLES致力于成為更好的解決方案供應(yīng)商！
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|
1.巖石磨片機(jī) 拋光磨片機(jī) 型號(hào)：HAD-G250
本機(jī)采用可控硅無調(diào)速，配有調(diào)速裝置。整機(jī)為落地式，作平穩(wěn)。臺(tái)面不銹鋼制作。選不同速度，換不同目數(shù)金剛沙分別可當(dāng)拋光或磨片機(jī)用?？蓡斡没螂p用。當(dāng)拋光機(jī)用時(shí)，般0.2-0.3mm載波片樣拋制成0.02mm-0.03mm薄片只需不到20秒。
HAD-G250巖石磨片機(jī) 拋光磨片機(jī)主要參數(shù)：
拋光盤直徑：250mm
主軸轉(zhuǎn)速：無調(diào)速 0-1400轉(zhuǎn)/分
2.片劑硬度測(cè)試儀/片劑壓碎硬度計(jì) 型號(hào):HAD-YD3
片劑硬度測(cè)試儀是用于測(cè)量片劑的壓碎硬度。
適用標(biāo)準(zhǔn)：JB/T20104-2007
標(biāo):
△ 硬度測(cè)試范圍：2-200N 0.2KG-20KG
△ 分辨率：0.1N 0.01Kg
△ 硬度測(cè)量度：量程±0.5%
△ 片劑測(cè)試直徑：2-40mm
△ 重復(fù)測(cè)量誤差：±1%
△ 每組測(cè)試片數(shù)：≤100片
△ 度量單位: 牛頓 N
公斤力 Kgf (1Kgf=9.81N)
△ 接口：標(biāo)準(zhǔn)串行打印接口，自帶微打。
△ 外形尺寸：長(zhǎng)*寬* 500mm*400mm*160mm
片劑硬度測(cè)量?jī)x主要點(diǎn):
① 度壓力傳感器，保證測(cè)試的度和重現(xiàn)性。
② 顯示選用清晰度液晶顯示屏，顯示內(nèi)容豐富，用戶可根據(jù)屏幕提示智能化操作，每個(gè)操作過程均給出漢字提示和量化標(biāo)。
③ 測(cè)量方式可選: 手動(dòng)單片/自動(dòng)連續(xù) 。
④ 系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)壓片、自動(dòng)顯示、自動(dòng)鎖存、自動(dòng)復(fù)位、自動(dòng)循環(huán)測(cè)試、自動(dòng)線性誤差修正、自動(dòng)故障診斷。
⑤ 強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力，可對(duì)試驗(yàn)結(jié)果行統(tǒng)計(jì)、分析、打印、顯示?？蔀槟峤粶y(cè)試樣本的大值、小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和變化范圍的報(bào)告。
⑥ 自動(dòng)計(jì)算退片行程，壓縮您的測(cè)試占空時(shí)間。
⑦ 度量單位鍵轉(zhuǎn)換（牛頓-公斤）。
⑧ 新型前換紙微型打印機(jī)。
3.無線壓電互感器變比測(cè)試儀 型號(hào):HAD-9500
產(chǎn)品點(diǎn)
測(cè)量：低壓電互感器二次回路的電、變比、比差、角差、相別、性、漏電在線測(cè)試監(jiān)控；變壓器兩側(cè)電大小、變比在線測(cè)試監(jiān)控；空電、漏電測(cè)試；二次回路核相、相序判斷能。
無線壓變比測(cè)試儀突破傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)，為測(cè)量低壓二次回路的電、變比、漏電而心制的，采用CT及掩膜數(shù)字集成，由用壓檢測(cè)儀、低壓電鉗、主機(jī)、壓緣桿、監(jiān)控軟件等組成，其無線傳送測(cè)試數(shù)據(jù)能穿透多層樓房障礙，直線傳輸距離達(dá)300米。若不使用緣桿，還可以當(dāng)作度低壓鉗形電表、漏電表使用，能準(zhǔn)確測(cè)出0.01mA～1000A的電或漏電。
能 | 低壓電互感器二次回路的電、變比、比差、角差、相別、性、漏電在線測(cè)試監(jiān)控；變壓器兩側(cè)電大小、變比在線測(cè)試監(jiān)控；空電、漏電測(cè)試；二次回路核相、相序判斷能 |
電 源 | DC6V 堿性干電池（1.5V AAA×4） |
測(cè)試方式 | 鉗形CT |
傳輸方式 | 無線傳輸，直線傳輸大距離約30m |
顯示模式 | LCD：128dots×64dots； |
LCD尺寸 | 顯示域：44mm×27mm |
儀表尺寸 | 主機(jī)：寬厚75mm×170mm×30mm |
鉗口尺寸 | 壓電鉗：φ48mm |
采樣速率 | 約2次/秒 |
測(cè)量范圍 | 壓檢測(cè)儀：0.1mA～1000A |
分 辨 率 | 壓電鉗：0.1mA |
換 檔 | 0.01mA～1000A自動(dòng)換檔 |
次回路測(cè)試度 | ±1%±3dgt （23℃±3℃，80%RH以下） |
二次回路測(cè)試度 | ±0.5%±3dgt（23℃±3℃，70%RH以下） |
變 比 | 1：1千（1.0K7） |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 2800組，按HOLD鍵保持?jǐn)?shù)據(jù)并自動(dòng)編號(hào)存儲(chǔ)（掉電或更換電池不會(huì)丟失數(shù)據(jù)） |
線路電壓 | 60KV以下線路測(cè)試（帶5節(jié)緣桿操作） |
數(shù)據(jù)保持 | 按HOLD鍵保持?jǐn)?shù)據(jù)，HOLD符號(hào)顯示，再按HOLD鍵取消保持 |
數(shù)據(jù)查閱 | 按HOLD鍵+POWER鍵可以入數(shù)據(jù)查閱模式 |
溢出顯示 | 量程溢出能：“OL A”符號(hào)顯示 |
無信號(hào)示 | 當(dāng)主機(jī)沒有收到發(fā)射信號(hào)時(shí)提示“無信號(hào)” |
自動(dòng)關(guān)機(jī) | 開機(jī)約15分鐘后，儀表自動(dòng)關(guān)機(jī)，以降低電池消耗（可以取消自動(dòng)關(guān)機(jī)能） |
電池電壓 | 當(dāng)電池電壓低于4.8V時(shí)，電池電壓低符號(hào)顯示，提醒更換電池 |
儀表質(zhì)量 | 主機(jī)：約240g（含電池） |
外界干擾 | 無強(qiáng)電磁場(chǎng)；無433MHz同頻干擾 |
作溫濕度 | -25℃～45℃； 80%Rh以下 |
存放溫濕度 | -10℃～60℃； 70%Rh以下 |
緣桿尺寸 | φ32mm，1m/節(jié)（5節(jié)） |
低壓電鉗引線長(zhǎng) | 標(biāo)準(zhǔn)2米（可以根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)距離加長(zhǎng)，實(shí)現(xiàn)0～50米遠(yuǎn)距離在線監(jiān)控） |
緣強(qiáng)度 | 壓檢測(cè)儀：AC100kV/rms (5節(jié)緣桿與壓電鉗鉗芯之間) |
結(jié) 構(gòu) | 防滴漏Ⅱ型（壓檢測(cè)儀） |
4.活性炭粒度測(cè)定儀/活性炭粒度測(cè)試儀/活性碳粒度檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-LD3
主要件及主要參數(shù):
測(cè)顆粒粒度測(cè)定儀的主要件及參數(shù)
l 轉(zhuǎn)速：150±2r/min
轉(zhuǎn)軸偏心距：20 ±1mm
2.定時(shí)器
3.電壓：220V 率：0.5KW
5.手持式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-3
概述
HAD-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭點(diǎn)與選型參考》入
儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直 徑：HADT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180HADHAD×180HADHAD。
長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100HADHAD。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
量程劃分及誤差等
量程（Ω-cm/□） | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
電阻測(cè)試范圍 | 0.010～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～20.00k/100.0k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB | |||
4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重：≤0.3kg
溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對(duì)應(yīng)的
產(chǎn)品咨詢
當(dāng)前位置：